Maintenance et résolution des problèmes des systèmes d'échantillonnage (SSM)
Maintenance et résolution des problèmes des systèmes d'échantillonnage (SSM)
Apprenez à résoudre en toute confiance les problèmes de votre système d'échantillonnage
Objectif
Apprendre à résoudre divers problèmes de conception de systèmes d'échantillonnage courants, du prélèvement sur la ligne de process jusqu’à l’élimination de l’échantillon.
Vous apprendrez
- Comment reconnaître et diagnostiquer des défauts de conception courants d'un système d'échantillonnage, qui entraînent un temps de réponse excessif et des échantillons non représentatifs
- Les formules, les calculs et les principes techniques qui pourront vous aider à résoudre les problèmes rencontrés dans les systèmes d’échantillonnage des analyseurs de process, et à régler ces systèmes avec précision pour une efficacité optimale
- Comment entretenir un système d'échantillonnage de manière à garantir une erreur minimale sur les mesures et une intégrité maximale du système
- Comment résoudre les problèmes de conception de systèmes d’échantillonnage existants et recommander des mesures correctives
Le contenu du cours est basé sur un ouvrage technique de référence rédigé par Tony Waters, expert et consultant dans l’industrie, et intitulé Industrial Sampling Systems.
Public concerné
- Toute personne impliquée dans le diagnostic et la résolution de problèmes sur les systèmes d’échantillonnage ainsi que dans l’entretien de ces systèmes, notamment les techniciens chargés des systèmes d’échantillonnage et des analyseurs, le personnel de maintenance et les concepteurs de systèmes
- Adapté comme formation de base ou comme stage de remise à niveau pour des professionnels expérimentés.
Durée de la formation
2 jours
Inscription
Inscrivez-vous dès maintenant à l’un de nos stages déjà prévus en nous faisant parvenir un formulaire d’inscription rempli. Ou envoyez-nous un courrier électronique à analyticaltraining@swagelok.com pour demander une formation dans vos propres locaux. Votre point de vente et centre de services agréé vous communiquera tous les détails.
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Les formateurs
Nos formateurs, spécialistes de la conception, de l’installation et de l’entretien des systèmes d’échantillonnage, sont:
- Dr Stephen Jacobs, propriétaire et président de Jacobs Process Analytics, Inc.: Au cours des 25 années qu’il a passées dans le secteur des systèmes d’échantillonnage, Stephen Jacobs a conçu, installé et entretenu des centaines d’analyseurs et de systèmes d’échantillonnage pour des applications allant de la sécurité au contrôle de process en circuit fermé. Il participe à l’application de principes de conception complexes ainsi qu’à la configuration et à l’adaptation de nombreux composants de systèmes d’échantillonnage pour résoudre des problèmes difficiles. M. Jacobs est titulaire d’un doctorat en chimie physique de l’Université Wesleyenne.
- Phil Harris, expert et consultant dans l’industrie: Durant les plus de 30 années qu’il a passées dans l’industrie et dans le monde universitaire, Phil Harris a fourni des avis et des analyses d’expert pour des applications les plus diverses. Il est l’auteur de nombreux articles sur les systèmes d’analyse et effectue régulièrement des présentations lors de conférences ou de séminaires techniques. Fort d’une grande expérience dans les domaines de la recherche, du développement et de la gestion de projets, M. Harris est intervenu dans de nombreux secteurs industriels, notamment du nucléaire, du raffinage pétrolier et des carburants alternatifs. Il est titulaire d’une licence et d’une maîtrise de l’Université du Manitoba. Il est membre de la division analyse de l’International Society of Automation (ISA).
- Manny S. Alvarez, ingénieur et associé de recherche: Spécialiste récompensé des analyseurs, Manny Alvarez est détenteur de plusieurs brevets dans ce secteur. Actuellement président de division analyse de l’ISA chargé de l’enseignement, il a travaillé comme ingénieur pour la société Exxon pendant près de quarante ans avant de prendre sa retraite. M. Alvarez a obtenu une licence de physique et de mathématiques à l’Université Rutgers et une maîtrise de chimie à l’Université de Princeton.